集成电路测试规格参数

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11现代集成电路测试技术978750258131222
11现代集成电路测试技术978750258131222
出版社: 化学工业出版社
作者: 时万春
页数: 540
出版时间: 2006-01-01
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醉染图书集成电路测试指南9787111683926
醉染图书集成电路测试指南9787111683926
出版社: 机械工业出版社
作者: 加速科技 编
版次: 1
页数: 272
开本: 16开
出版时间: 2021-06-01
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11混合信号集成电路测试与测量978712108293122
11混合信号集成电路测试与测量978712108293122
出版社: 电子工业出版社
作者: (美)伯恩斯 (美)罗伯茨
页数: 531
开本: 16开
出版时间: 2009-03-01
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11集成电路封装与测试978711161728022
11集成电路封装与测试978711161728022
出版社: 机械工业出版社
作者: 吕坤颐 刘新 牟洪江
版次: 1
页数: 217
开本: 16开
出版时间: 2019-03-01
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11数字集成电路测试优化978703027894422
11数字集成电路测试优化978703027894422
出版社: 科学出版社
作者: 李晓维
版次: 1
页数: 344
开本: 16开
出版时间: 2010-06-01
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醉染图书集成电路芯片测试9787308129763
醉染图书集成电路芯片测试9787308129763
出版社: 浙江大学出版社有限责任公司
作者: 王芳著
版次: 1
页数: 192
开本: 16开
出版时间: 2014-03-01
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正版新书]集成电路开发与测试(中级)/集成电路1+X职业技能等级证
正版新书]集成电路开发与测试(中级)/集成电路1+X职业技能等级证
出版社: 3030-高等教育珠海蓝色畅想
作者: 编者:居水荣//夏敏磊|责编:郑期彤
版次: 1
开本: 16开
出版时间: 2020-12-01
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醉染图书集成电路芯片测试技术9787560659541
醉染图书集成电路芯片测试技术9787560659541
出版社: 西安电子科技大学出版社
作者: 作者
版次: 1
页数: 208
开本: 16开
出版时间: 2021-03-01
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全新正版集成电路芯片测试9787308129763浙江大学
全新正版集成电路芯片测试9787308129763浙江大学
出版社: 浙江大学电子音像出版社
作者: 编者:王芳//徐振|责编:王波
版次: 1
页数: 182
开本: 16开
出版时间: 2014-03-01
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正版新书]集成电路芯片测试技术居水荣9787560659541
正版新书]集成电路芯片测试技术居水荣9787560659541
出版社: 西安电子科技大学出版社
作者: 居水荣
版次: 1
页数: 208
开本: 16开
出版时间: 2021-03-01
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集成电路测试技术 武乾文 编 专业科技 文轩网
集成电路测试技术 武乾文 编 专业科技 文轩网
出版社: 电子工业出版社
作者: 武乾文
版次: 1
装帧: 平装
页数: 348
开本: 其他
出版时间: 2022-10-01 00:00:00
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11数字集成电路功耗与测试综合优化978730245560822
11数字集成电路功耗与测试综合优化978730245560822
出版社: 清华大学出版社
作者: 孙强
版次: 1
页数: 208
开本: 16开
出版时间: 2016-12-01
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醉染图书集成电路封装与测试/吕坤颐9787111617280
醉染图书集成电路封装与测试/吕坤颐9787111617280
出版社: 机械工业出版社
作者: 吕坤颐 刘新 牟洪江
版次: 1
页数: 217
开本: 16开
出版时间: 2018-09-01
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全新正版集成电路测试指南9787111683926机械工业出版社
全新正版集成电路测试指南9787111683926机械工业出版社
出版社: 机械工业出版社
作者: 加速科技 编
版次: 1
页数: 257
开本: 16开
出版时间: 2021-06-01
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醉染图书"芯"想事成 集成电路的封装与测试9787542782786
醉染图书"芯"想事成 集成电路的封装与测试9787542782786
出版社: 上海科学普及出版社
作者: 刘子玉
版次: 1
页数: 152
开本: 16开
出版时间: 2020-10-01
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11超大规模集成电路测试9787121063077LL
11超大规模集成电路测试9787121063077LL
出版社: 电子工业出版社
作者: 雷绍充 邵志标 梁峰
页数: 319
出版时间: 2008-05-01
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集成电路芯片测试技术 本书编委会 著 专业科技 文轩网
集成电路芯片测试技术 本书编委会 著 专业科技 文轩网
出版社: 西安电子科技大学出版社
作者: 本书编委会
版次: 1
装帧: 平装
开本: 其他
出版时间: 2021-04-01 00:00:00
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集成电路芯片测试 王芳,徐振 著 大中专 文轩网
集成电路芯片测试 王芳,徐振 著 大中专 文轩网
出版社: 其他
作者: 王芳,徐振
版次: 1
装帧: 平装
开本: 16开
出版时间: 2014-03-01 00:00:00
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11数字集成电路与嵌入式内核系统能够的测试设计978711118706622
11数字集成电路与嵌入式内核系统能够的测试设计978711118706622
出版社: 机械工业出版社
作者: 何虎
页数: 284
出版时间: 2006-05-01
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