可靠性评估

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可靠性评估 参数规格

[正版] SiC GaN功率半导体封装和可靠性评估技术 菅沼 克昭 器件设计与制造 芯片 工艺集成电路 低导通电阻
[正版] SiC GaN功率半导体封装和可靠性评估技术 菅沼 克昭 器件设计与制造 芯片 工艺集成电路 低导通电阻
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作者: 无著
码洋价: 89.00元
原版书名: SiC/GaN功率半导体封装和可靠性评估技术(套装)
是否套装:
包册数: 1册
: 机械工业出版社
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[正版] SiC/GaN功率半导体封装和可靠性评估技术 工业农业技术 电子电路 机械工业出版社 正版书籍
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作者: 无著
码洋价: 89.00元
出版时间: 2020-12
原版书名: SiC/GaN功率半导体封装和可靠性评估技术
是否套装:
包册数: 1册
: 机械工业出版社
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