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正版 SiC GaN功率半导体封装和可靠性评估技术 菅沼 克昭 器件设计与制造 芯片 工艺集成电路 低导通电阻 机械
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[正版] SiC/GaN 功率半导体封装和可靠性评估技术 菅沼 克昭著 芯片封装与测试 器件设计与制造 集成电路功率半
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[M]SiC/GaN功率半导体封装和可靠性评估技术-9787111669531
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